<strike id="qwog2"></strike>
|
|
| 品牌 | 其他品牌 | 適用領(lǐng)域 | 大專院校 |
|---|---|---|---|
| 溫度范圍 | -70-200℃ | 溫度波動度 | ±1℃ |
| 溫度均勻度 | 小于2% | 濕度范圍 | -% R.H |
| 額定電壓 | 380V | 重量 | 400kg |
| 外形尺寸 | 1200*2000*1500mm | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
| 加工定制 | 是 |
一、兩箱冷熱沖擊試驗機簡介：
冷熱沖擊試驗箱根據(jù)待測試樣品的特殊性，分為兩箱式動態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，本產(chǎn)品可做冷熱沖擊，也可以做單獨高溫或低溫使用。廣泛應(yīng)用于航空航天、電子電工、儀器儀表、汽車、通訊、集成電路、半導(dǎo)體等領(lǐng)域，可發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品潛在缺陷，做應(yīng)力篩選試驗，提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品質(zhì)量控制。
二、兩箱冷熱沖擊試驗機技術(shù)參數(shù):
| |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
三、冷熱沖擊試驗箱滿足標準：
1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗
第2部分:試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則
4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗
5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
8.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
掃一掃,關(guān)注我們
